用語説明

原子力間顕微鏡(AFM)

Atomic Force Microscopes

大気中で原子観察が可能な顕微鏡として,走査トンネル顕微鏡(STM)があるが,導電性物質しか取り扱えないという欠点があるため,この点を改良した顕微鏡のこと。微細な探針を持つ梁を物体表面に無限に近づけていくと,ある種の引力(ファン・デル・ワールス力等)や強い原子間斥力が働く。この2つの力が釣り合う位置に探針を制御して表面をなぞれば,原子の大きさの分解能で表面形状や,表面の磁気的あるいは電気的性質まで測定できる。また探針を1gの100万分の1程度の軽い力で表面に接触させてなぞるものも,広い意味で原子力間顕微鏡とされている。